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スリットランプ顕微鏡
专利权人:
TOPCON CORP
发明人:
SATO TOSHIAKI,佐藤 俊明,TAKEDA TAKANORI,武田 孝紀,WATANABE TAKAHIRO,渡辺 孝浩
申请号:
JP2013069567
公开号:
JP2014188339A
申请日:
2013.03.28
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a slit lamp microscope capable of controlling an irradiation state of slit light and an irradiation state of background illumination light linked to each other.SOLUTION: The slit lamp microscope comprises: a main illumination system a background illumination system an observation system and a control system. The main illumination system includes a first light source part outputting first light, and a slit forming part for forming a width-variable slit, and illuminates a subjects eye with the first light passing through the slit. The background illumination system includes a second light source part outputting second light and illuminates a peripheral area of the illumination area of the first light to the subjects eye with the second light. The observation system includes an ocular lens, an image pickup device, and an optical element group that guides reflection light of the first light and reflection light of the second light by the subjects eye to the ocular lens and the image pickup device. The control part controls the main illumination system and the second light source part linked to each other.COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT【課題】スリット光の照射状態と背景照明光の照射状態とを連係制御することが可能なスリットランプ顕微鏡を提供する。【解決手段】実施形態に係るスリットランプ顕微鏡は、主照明系と、背景照明系と、観察系と、制御部とを有する。主照明系は、第1の光を出力する第1の光源部と、幅が可変なスリットを形成するスリット形成部とを含み、スリットを通過した第1の光で被検眼を照明する。背景照明系は、第2の光を出力する第2の光源部を含み、被検眼に対する第1の光の照射領域の周囲の領域を第2の光で照明する。観察系は、接眼レンズと、撮像装置と、被検眼による第1の光の反射光および第2の光の反射光を接眼レンズおよび撮像装置に導く光学素子群とを含む。制御部は、主照明系と第2の光源部とを連係制御する。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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