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荷電粒子線照射装置及び荷電粒子線照射装置の照射位置検出方法
专利权人:
SUMITOMO HEAVY IND LTD
发明人:
OCHI TOSHIAKI,越智 俊昭
申请号:
JP2011075354
公开号:
JP2012205837A
申请日:
2011.03.30
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a charged particle beam irradiation device capable of achieving highly accurate control of an irradiation amount to a body to be irradiated.SOLUTION: The charged particle beam irradiation device 100 for irradiating the body to be irradiated with a charged particle beam R includes: an irradiation part 1 for scanning the charged particle beam R and irradiating a prescribed part of the body with the charged particle beam R a beam position monitor 5, provided inside the irradiation part 1, for detecting an irradiation position of the charged particle beam R turning to the body and a shutter mechanism 6 arranged downstream of the charged particle beam R relative to the beam position monitor 5, and capable of switching an open state for making the charged particle beam R pass through and a shutoff state for shutting off the charged particle beam. In the charged particle beam irradiation device 100, since the irradiation position is confirmed and adjusted without irradiating a patient with the charged particle beam R before irradiation position adjustment by switching the shutter mechanism 6 to the shutoff state, the highly accurate control of the irradiation amount to the body is achieved.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】被照射体に対する照射量の高精度なコントロールを実現できる荷電粒子線照射装置を提供する。【解決手段】本発明は、被照射体に荷電粒子線Rを照射する荷電粒子線照射装置100であって、荷電粒子線Rを走査して、被照射体の所定の部位へ荷電粒子線Rを照射する照射部1と、照射部1内に設けられ、被照射体へ向かう荷電粒子線Rの照射位置を検出するビーム位置モニタ5と、ビーム位置モニタ5に対して荷電粒子線Rの下流側に配置され、荷電粒子線Rを通過させる開放状態と荷電粒子線を遮断する遮断状態とを切り換え可能なシャッター機構6と、を備える。この荷電粒子線照射装置100によれば、シャッター機構6を遮断状態に切り換えることにより照射位置調整前の荷電粒子線Rを患者に照射することなく照射位置の確認及び調整を行うことができるので、被照射体に対する照射量の高精度なコントロールを実現できる。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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