A system for detecting a defect in a membranous article (20) comprising: an emitter probe (10) connected to an electrical supply (14), said probe (10) insertable into a cavity of said article (20) a sensor (15) for receiving an electrical discharge from said probe (10) a conveyor system for bringing the probe and sensor into mutual proximity a processor for measuring the potential difference between the probe and sensor, said processor capable of detecting a defect based upon said measurement.La présente invention concerne un système pour la détection dun défaut dans un article de type membraneux (20) comportant: une sonde émettrice (10) connectée à une alimentation électrique (14), ladite sonde (10) étant apte à être introduite dans une cavité dudit article (20) un capteur (15) pour recevoir une décharge électrique provenant de la sonde (10) un système de transport pour le rapprochement mutuel de la sonde et du capteur un processeur pour mesurer la différence de potentiel entre la sonde et le capteur, ledit processeur étant capable de détecter un défaut sur la base de ladite mesure.
