A system for detecting a defect in a membranous article (20) comprising: an emitter probe (10) connected to an electrical supply (14), said probe (10) insertable into a cavity of said article (20) a sensor (15) for receiving an electrical discharge from said probe (10) a conveyor system for bringing the probe and sensor into mutual proximity a processor for measuring the potential difference between the probe and sensor, said processor capable of detecting a defect based upon said measurement.膜質物品(20)の不具合を検出するシステムは、電源(14)に接続された、膜質物品のキャビティに挿入可能なエミッタプローブ(10)と、エミッタプローブ(10)からの電気放電を受けるセンサ(15)と、エミッタプローブ(10)およびセンサ(15)を互いに接近させるコンベヤ装置と、エミッタプローブ(10)とセンサ(15)との間の電位差を測定し、測定した電位差に基づいて不具合を検出することができるプロセッサとを備えたことを特徴とする。
