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被測定物内の成分濃度の測定装置
专利权人:
HITACHI MAXELL LTD
发明人:
KISHIGAMI KATSUHIRO,岸上 勝博,SHIMANO TAKESHI,島野 健
申请号:
JP2011010931
公开号:
JP2012148034A
申请日:
2011.01.21
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus for measuring component concentration in an object to be measured, capable of measuring, with high accuracy, the component concentration such as glucose concentration in the object to be measured that shows light scattering by particulates in a medium of a human living body or the like.SOLUTION: The apparatus 1 for measuring component concentration in the object to be measured includes a semiconductor laser 2 emitting linearly polarized light a phase modulator 3 temporally changing the polarized state of the linearly polarized light incident thereto from the semiconductor laser 2 a polarization beam splitter 5 for polarizing and separating the light changed in its polarized state by the phase modulator 3, radiated to the object 4 to be measured that shows light scattering by particulates in the medium, and transmitted through the object 4 to be measured first and second photodetectors 6 and 7 detecting two polarized-separated polarized beams of light, respectively and a differential amplifier 8 for differentially computing detection signals for the two polarized-separated polarized beams of light. A differential signal obtained by the differential amplifier 8 is used as a measurement signal.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】ヒト生体などの媒質中の微粒子による光散乱を示す被測定物内の、例えばグルコース濃度などの成分濃度を高精度に測定することが可能な、被測定物内の成分濃度の測定装置を提供する。【解決手段】直線偏光を出射する半導体レーザ2と、半導体レーザ2からの直線偏光が入射され、入射された光の偏光状態を時間的に変化させる位相変調器3と、位相変調器3によって光の偏光状態が変化させられ、媒質中の微粒子による光散乱を示す被測定物4に照射され、被測定物4を透過した光を偏光分離する偏光ビームスプリッタ5と、偏光分離された2つの偏光をそれぞれ検出する第1及び第2の光検出器6、7と、偏光分離された2つの偏光の検出信号を差動演算する差動増幅器8とを備えた、被測定物内の成分濃度の測定装置1である。差動増幅器8によって得られる差分信号が計測信号として利用される。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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