Is to provide an optical image measuring apparatus which can shorten the measurement time. And outputs a flash of light from a xenon lamp 2, converted to broadband light by an optical filter 2A. Is converted into linearly polarized light flash light by the polarizing plate 3, is divided into reference light R and S signal light by the half mirror 6. Is converted to circularly polarized light by the wavelength plate 7 and the reference beam R, to produce an interference light L by superimposing the half mirror 6 and the reference light R and the signal light S. CCD23 detects interference light of the same characteristics as the interference light L. Is divided into P-polarized light component L2 and L1 S-polarized light component by the polarizing beam splitter 11, the interference light L is detected by the CCD21,22 respectively. Based on the detection signal from the CCD21,22,23, the computer 30 forms an image of the measured object O. In the optical image measuring apparatus 1 described above, it can be can be simultaneously acquired L1, L2 two polarization components of the interference light L, and shorten the measurement time.計測時間の短縮を図ることが可能な光画像計測装置を提供する。キセノンランプ2からフラッシュ光を出力し、光学フィルタ2Aにより広帯域光に変換する。偏光板3でフラッシュ光を直線偏光に変換し、ハーフミラー6で信号光Sと参照光Rに分割する。参照光Rを波長板7で円偏光に変換し、信号光Sと参照光Rをハーフミラー6で重畳して干渉光Lを生成する。CCD23は、干渉光Lと同じ特性の干渉光を検出する。干渉光Lは、偏光ビームスプリッタ11によりS偏光成分L1とP偏光成分L2に分けられ、それぞれCCD21、22により検出される。コンピュータ30は、CCD21、22、23からの検出信号に基づいて、被測定物体Oの画像を形成する。このような光画像計測装置1によれば、干渉光Lの2つの偏光成分L1、L2を同時に取得できるので、計測時間の短縮を図ることができる。
