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半自動式輪郭検出方法
专利权人:
シナーク・インコーポレイテッド
发明人:
デ・ブライネ,マルレーン,イグレシアス,フアン・エウヘニオ
申请号:
JP2010507920
公开号:
JP5417321B2
申请日:
2008.05.15
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
The method of specifying is offered the position of the contour of the structure inside that picture by processing the picture which includes the structure. As for the structure inside the picture, the landmark position 3 or 10 anoteto is done on that, the step which prepares start gathering of the digital data which expresses the picture which includes that structure is executed. And, the statistical model of the structure, is fitted to the landmark position which anoteto is done on the picture, the step which forms the early estimator of the contour of the structure is executed. Furthermore, using the gradation level information which is obtained from the point which it adjoins to the contour which is presumed, making the contour boundary line move repetitively, the step which forms the last estimator of the contour of the structure is executed.構造物を含む画像を処理することによって、その画像内の構造物の輪郭の位置を特定する方法が提供される。画像内の構造物は、その上に3乃至10個のランドマークポジションがアノテートされており、その構造物を含む画像を表現するデジタルデータの開始集合を用意するステップが実行される。そして、構造物の統計モデルを、画像上にアノテートされたランドマークポジションにフィットさせ、構造物の輪郭の初期推定値を生成するステップが実行される。更に、推定された輪郭に隣接するポイントから得られた階調レベル情報を使用して、反復的に輪郭境界線を移動させて構造物の輪郭の最終推定値を生成するステップが実行される。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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