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X射线光栅综合成像信息提取方法、系统及存储介质
- 专利权人:
- 清华大学
- 发明人:
- 张丽,高河伟,吴承鹏,邢宇翔
- 申请号：
- CN201910593224.0
- 公开号：
- CN110197486A
- 申请日:
- 2019.02.07
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 一种X射线光栅综合成像信息提取方法、系统及存储介质,方法包括:对背景位移曲线进行平移变换使得最大值位于中心位置,同时对物体位移曲线平移相同距离;将平移变换后的背景位移曲线表示为余弦函数模型;基于背景位移曲线和物体位移曲线的卷积关系,得到傅里叶空间中小角散射分布的零阶矩、归一化一阶矩和归一化二阶中心矩,分别对应吸收、相衬和暗场三种对比度信息,其中,归一化一阶矩和归一化二阶中心矩中的核函数为广义核函数,基于位移曲线具有的积分特性获得。该方法极大地拓宽了核函数的选取范围和自由度,在保证和原有核函数直接计算多阶矩方法一样具有很快的计算速度的前提下还提供了更大的自由度来挑选出针对实际应用最合适的核函数。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
