单次曝光的硬X射线光栅干涉仪的信息提取新方法
- 专利权人:
- 合肥工业大学
- 发明人:
- 王志立,胡继刚
- 申请号：
- CN201610291248.7
- 公开号：
- CN105852895A
- 申请日:
- 2016.04.29
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种单次曝光的硬X射线光栅干涉仪的信息提取新方法，其特征是按如下步骤进行：1移动任一光栅，使硬X射线光栅干涉仪工作在光强变化曲线的左半腰或右半腰位置处；2分别获取背景投影图像和被成像物体的投影图像；3获取归一化的被成像物体的投影图像，对其进行取对数处理；4根据对数结果，构建表达式进行傅立叶变换；5根据傅里叶变换结果，利用逆傅里叶变换，分别提取被成像物体的吸收和相移信号。本发明摒弃了繁琐的光栅扫描流程，简化了硬X射线光栅干涉仪的图像获取流程，能够实现快速、低辐射剂量的硬X射线相位衬度成像，从而提高了成像效率，为低辐射剂量临床医学成像提供新途径。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
