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光断層測定装置
专利权人:
コニカミノルタオプト株式会社
发明人:
大澤 聡
申请号:
JP2010533863
公开号:
JPWO2010044322A1
申请日:
2009.09.10
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
A light source 10 for generating a coherent light, a coupler 12 which divides the light from the light source 10, to interfere with the returning light from the reference mirror 30 and the return light from the measurement object, the optical tomographic measurement device coupler 12 the optical path 21 which transmits it towards the measurement object with light of one of the divided, the optical path 31 for transmitting to the reference mirror 30 to light the other divided by the coupler 12 to detect the interference light by the coupler 12 and a photodetector 42, each containing an optical fiber configured optical paths 21 and 31, to bend at the same shape during bending. Even if Such arrangement was used bendable optical fiber, it can be to obtain a good signal interference, can be obtained measuring the optical tomographic apparatus tomographic image with high resolution can be acquired.光断層測定装置は、可干渉性の光を発生する光源10と、光源10からの光を分割し、測定対象物からの戻り光と参照ミラー30から戻り光を干渉させるカプラ12と、カプラ12によって分割された一方の光を測定対象物に向けて伝送する光路21と、カプラ12によって分割された他方の光を参照ミラー30に向けて伝送する光路31と、カプラ12による干渉光を検出する光検出器42とを備え、光路21,31は、屈曲時に互いに同じ形状に屈曲するように構成された光ファイバをそれぞれ含む。こうした構成により、屈曲可能な光ファイバを用いた場合でも、良好な干渉信号を得ることでき、高解像度の断層像が取得可能な光断層測定装置が得られる。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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