PROBLEM TO BE SOLVED: To measure intensity distribution of X-rays on a reference surface and perform contrast formation depending on phase difference.SOLUTION: A first Fourier transformation function value is calculated by integrating a wave function defined by multiplying a first wave function given phase and amplitude distribution by a correction wave function indicating spherical wave properties of X-rays on a subject imaging surface while using a wavenumber vector as a Fourier variable number. A second wave function to be supposed on a first reference surface farther from an X-ray source than the subject imaging surface on the basis of the first Fourier transformation function value. Amplitude information on the second wave function is replaced depending on reference amplitude distribution obtained by imaging means present on the first reference surface when a subject is placed on the subject imaging surface. A second Fourier transformation calculation on the first reference surface, a second inverse Fourier transformation calculation to first to second reference surfaces, a second amplitude replacement and a third Fourier transformation calculation on the second reference surface, and an inverse Fourier transformation calculation to the subject imaging surface from the second reference surface are made to function respectively, and repeated until phase information on the subject imaging surface is settled.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】参照面のX線の強度分布を測定して位相差によるコントラスト形成を行うこと。【解決手段】位相、振幅分布を与えた第1波動関数にX線の球面波性を意味する補正波動関数を掛け定義された波動関数を、波数ベクトルをフーリエ変数として被写体撮影面上において積分して第1のフーリエ変換関数値を算出する。被写体撮影面よりX線源から遠い第1参照面において想定できる第2波動関数を第1のフーリエ変換関数値に基づいて算出する。被写体撮影面に被写体が置かれたときに第1参照面に存在する撮像手段によって得られる参照振幅分布で第2波動関数の振幅情報を置き換える。以下、第1参照面で第2のフーリエ変換算出を、第1から第2参照面に対して第2の逆フーリエ変換算出を、第2参照面で第2の振幅置換、第3のフーリエ変換算出を、第2参照面から被写体撮影面に対して逆フーリエ変換算出を、各機能させ、被写体撮影面の位相情報が収束するまで繰返す。【選択図】図1
