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植物計測処理装置、植物計測処理方法および植物計測処理プログラム
专利权人:
HITACHI SOLUTIONS LTD
发明人:
AOYANAGI YOSHIMITSU,青柳 慶光
申请号:
JP2013138120
公开号:
JP2015008699A
申请日:
2013.07.01
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide processing for measuring growth condition of plants without being affected by surrounding light environment and shadows of the plants.SOLUTION: The plant measurement processing is performed by configuration for making a computer execute a process of calculating position dependency of temperature change (temperature/time) in a cultivation space where plants are planted, and a process of defining an area in which temperature change is larger than that of a background area in which the plants are not panted in the cultivation space as a covered area for the plants based on the position dependency of temperature change.COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT【課題】周囲の光環境や植物の影の影響を受けずに植物の生育状態を計測する処理について提供する。【解決手段】コンピュータに、植物が植えられた栽培スペースの温度変化(温度/時間)の位置依存性を求める処理と、温度変化の位置依存性に基づいて、栽培スペース内の植物が植えられていない背景領域よりも温度変化の大きい領域を植物の被覆領域とする処理と、を実行させるための構成で植物計測処理する。【選択図】図1A
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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