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SONDE DE SYSTÈME DE MESURE DE CONTRAINTE NON INTRUSIVE INTÉGRÉE
专利权人:
United Technologies Corporation
发明人:
申请号:
EP19186112.9
公开号:
EP3623790A1
申请日:
2019.07.12
申请国别(地区):
EP
年份:
2020
代理人:
摘要:
A low profile un-lensed non-intrusive stress measurement system probe (200) may comprise a housing (300) comprising a first channel (510) and an optical face (506), a first hypotube (310) disposed within the first channel (510) and coupled at a sensing aperture (508) in the optical face (506), and a plurality of optical fibers (412) disposed within the first hypotube (310), wherein the first hypotube (310) executes a bend between 45° and 90° within the housing (300).
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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