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PHOTOSENSITIVITY TEST DEVICE
专利权人:
NIKKISO CO LTD;日機装株式会社;NAGOYA UNIV;国立大学法人名古屋大学
发明人:
ASANO HIDEKI,浅野 英樹,KONO MICHIHIRO,河野 通浩,AKIYAMA SHINJI,秋山 真志,OGAWA YASUSHI,小川 靖
申请号:
JP2018094602
公开号:
JP2019122746A
申请日:
2018.05.16
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
To provide a photosensitivity test device capable of reducing unevenness in intensity distribution of irradiation light in an emission port, in consideration of a problem that determination of photosensitivity becomes difficult.SOLUTION: The photosensitivity test device, which emits a plurality of irradiation beams 28 having intensities different from each other to test the photosensitivity of the skin, includes an optical element 24 for scattering light coming from a light source 18; and an emission port 10 for emitting light scattered by the optical element 24 as the irradiation light 28.SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】本発明は光線過敏性の判定が難しくなるという課題に鑑みなされたもので、出射口内における照射光の強度分布のむらを減らすことが可能な光線過敏検査装置を提供する。【解決手段】光線過敏検査装置は、互いに強度の異なる複数の照射光28を照射して皮膚の光線過敏性を検査する検査装置であって、光源18からの光を散乱させる光学素子24と、光学素子24で散乱させた光を照射光28として出射する出射口10と、を備える。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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