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粒子線照射システム
专利权人:
HITACHI LTD
发明人:
NISHIUCHI HIDEAKI,西内 秀晶,TOTAKE SATOSHI,遠竹 聡,SAITO KAZUYOSHI,齋藤 一義
申请号:
JP2010218058
公开号:
JP2012070945A
申请日:
2010.09.29
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress overshoot of emission beam current waveform while ion beam is being turned on when emission of the ion beam from synchrotron is controlled.SOLUTION: The particle beam irradiation system includes: synchrotron that accelerates and emits the ion beam an irradiation device that irradiates an irradiation target with the ion beam emitted from the synchrotron and a control device that controls the synchrotron and the irradiation device. The irradiation device has a scanning electromagnet that scans the ion beam passing by and a dose monitor that measures radiation dosage of the ion beam. The control device stores a target dosage value for each irradiation region of the irradiation target and a threshold, which is a value lower than the target dosage value, and solves the problem by controlling a current value of the ion beam emitted from the synchrotron until the time when an accumulated dosage value based on an output signal from a dose monitor becomes the threshold.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】シンクロトロンからのイオンビームの出射制御の際、イオンビームのON制御時に出射ビーム電流波形のオーバーシュートを抑制することを課題とする。【解決手段】イオンビームを加速して出射するシンクロトロンと、シンクロトロンから出射されたイオンビームを照射対象に照射する照射装置と、シンクロトロン及び照射装置を制御する制御装置を備え、照射装置は、通過するイオンビームを走査する走査電磁石及びイオンビームの線量を測定する線量モニタを有し、制御装置は、照射対象の各照射領域に対する目標線量値及び目標線量値よりも低い値である閾値を記憶し、線量モニタからの出力信号に基づく積算線量値が閾値になるまでの期間に、シンクロトロンから出射されるイオンビームの電流値を制御することによって、上記課題を解決する。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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