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Differential phase contrast imaging using a focusing deflection structure plate
专利权人:
コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ
发明人:
レッスル,エヴァルト,ケーラー,トーマス,レッスル,エヴァルト,ケーラー,トーマス
申请号:
JP2013550997
公开号:
JP2014509887A
申请日:
2012.01.30
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
The present invention relates to X-ray differential phase-contrast imaging, in particular to a deflection device for X-ray differential phase-contrast imaging. In order to provide differential phase-contrast imaging with improved dose efficiency, a deflection device (28) for X-ray differential phase-contrast imaging is provided, comprising a deflection structure (41) with a first plurality (44) of first areas (46), and a second plurality (48) of second areas (50). The first areas are provided to change the phase and/or amplitude of an X-ray radiation; and wherein the second areas are X-ray transparent. The first and second areas are arranged periodically such that, in the cross section, the deflection structure is provided with a profile arranged such that the second areas are provided in form of groove-like recesses (54) formed between first areas provided as projections (56). The adjacent projections form respective side surfaces (58) partly enclosing the respective recess arranged in between. The side surfaces of each recess have a varying distance (60) across the depth (62) of the recess.本発明は、X線微分位相コントラスト撮像技術に関し、特に、X線放射線微分位相コントラスト撮像用の偏向装置に関する。改善された線量効率で、微分位相コントラスト画像を提供するため、X線放射線微分位相コントラスト撮像用の偏向装置(28)が提供される。これは、第1の領域(46)の第1の複数部(44)と、第2の領域(50)の第2の複数部(48)とを有する偏向構造(41)を有する。第1の領域は、X線放射線の位相および/または振幅を変化するように提供され、第2の領域は、X線に対して透過性である。第1および第2の領域は、周期的に配置され、断面において、前記偏向構造には、突起(56)として提供された第1の領域の間に形成された第2の領域が、溝状凹部(54)の形態で提供されるように配置されたプロファイルが設けられる。隣接する突起は、間に配置された各凹部を部分的に取り囲むそれぞれの側表面(58)を構成する。各凹部の側表面は、前記凹部の深さ(62)にわたって変化する距離(60)を有する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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