一种用于检测高频超声仪器侧向分辨力的成套试件
- 专利权人:
- 中国科学院声学研究所
- 发明人:
- 牛凤岐,朱承纲,程洋,张迪
- 申请号：
- CN201810311253.9
- 公开号：
- CN110353726A
- 申请日:
- 2018.09.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种用于检测高频超声仪器侧向分辨力的成套试件,包括:第一塑料垫块(2)、第二塑料垫块(3)、第一塑料薄膜(4)、第二塑料薄膜(5)、若干第一固定装置(6)、若干第二固定装置(7)、基板(8)、第一试件支柱(9)和第二试件支柱(10);所述基板(8)的一侧固定第一试件支柱(9)和第二试件支柱(10);其另一侧放置第一塑料垫块(2)和第二塑料垫块(3),二者相对放置;第一塑料垫块(2)与第二塑料垫块(3)之间夹有第一塑料薄膜(4)和第二塑料薄膜(5);第一固定装置(6)与第二固定装置(7)均安装在第一塑料垫块(2)的外侧或第二塑料垫块(3)的外侧。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
