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一种用于检测高频超声仪器侧向分辨力的成套试件
专利权人:
中国科学院声学研究所
发明人:
牛凤岐,朱承纲,程洋,张迪
申请号:
CN201820494043.3
公开号:
CN209421973U
申请日:
2018.09.04
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本实用新型涉及一种用于检测高频超声仪器侧向分辨力的成套试件,包括:第一塑料垫块(2)、第二塑料垫块(3)、第一塑料薄膜(4)、第二塑料薄膜(5)、若干第一固定装置(6)、若干第二固定装置(7)、基板(8)、第一试件支柱(9)和第二试件支柱(10);所述基板(8)的一侧固定第一试件支柱(9)和第二试件支柱(10);其另一侧放置第一塑料垫块(2)和第二塑料垫块(3),二者相对放置;第一塑料垫块(2)与第二塑料垫块(3)之间夹有第一塑料薄膜(4)和第二塑料薄膜(5);第一固定装置(6)与第二固定装置(7)均安装在第一塑料垫块(2)的外侧或第二塑料垫块(3)的外侧。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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