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一种用于检测高频超声成像仪器轴向分辨力的成套试件
- 专利权人:
- 中国科学院声学研究所
- 发明人:
- 牛凤岐,朱承纲,程洋,张迪
- 申请号：
- CN201820486359.8
- 公开号：
- CN208568236U
- 申请日:
- 2018.08.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 本实用新型涉及一种用于检测高频超声成像仪器轴向分辨力的成套试件,包括:第一塑料垫块(1)、第二塑料垫块(14)、低衰减塑料薄片(2)、第一塑料薄膜(3)、第二塑料薄膜(15)、基板(5)、第一固定装置(7)、第二固定装置(16)、第一试件支柱(8)、第二试件支柱(17);该基板(5)的两端固定安装第一试件支柱(8)和第二试件支柱(17),且二者位于基板(5)的一侧;其另一侧上对称地放置第一塑料薄膜(3)和第二塑料薄膜(15),低衰减塑料薄片(2)放置在二者之上;低衰减塑料薄片(2)上放置第一塑料垫块(1)和第二塑料垫块(14),第一固定装置(7)、第二固定装置(16)位于基板的一侧,该侧开有沟槽状结构(6)。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
