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波束监视系统以及粒子线照射系统
专利权人:
株式会社日立制作所
发明人:
堀能士,松下尊良,森山国夫,田所昌宏
申请号:
CN201410721346.0
公开号:
CN104667436A
申请日:
2014.12.02
申请国别(地区):
CN
年份:
2015
代理人:
摘要:
本发明提供一种波束监视系统以及粒子线照射系统,具备用于提高位置宽度确定的测量精度的简单的结构。作为在位置确定中使用的信号,从测量线所有点中周期性地提取代表线电极,各以一点分别与位置确定用电流频率变换器、监视器信号处理装置连接,来确定波束位置。作为仅取得数据的信号,将测量线所有点通过相同数量的线进行分组,取得各组信号的各一点的信号,汇聚组数的测量线与一点的数据取得用电流频率变换器、监视器信号处理装置连接。之后,上游波束监视器监视控制装置和下游波束监视器监视控制装置根据来自代表线电极的处理信号求出波束位置,根据求出的波束位置的信息、来自代表线电极的处理信号以及来自剩余线电极的处理信号求出波束宽度。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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