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基于移动模式序列与遗传禁忌的集成电路的布图方法
专利权人:
西安电子科技大学
发明人:
刘静,焦李成,韩二丽,朱园,马文萍,马晶晶
申请号:
CN201310733464.9
公开号:
CN103714384B
申请日:
2013.12.24
申请国别(地区):
中国
年份:
2017
代理人:
张培勋
摘要:
本发明涉及一种基于移动模式序列与遗传禁忌的集成电路布图方法,其特征在于:首先初始化种群中个体的宽和高、移动模式、旋转模式,而后根据移动模式序列的方法计算出个体的面积代价,适应度。然后应用遗传算法的选择算子,之后运用禁忌搜索进行局部搜索,最后运用交叉、变异算子。当然,每次变更模块顺序、移动模式、旋转模式后均要用移动模式序列的方法对个体重新计算适应度。本发明对于求解超大规模集成电路方面有很多的优势,还可以扩展到求解其他组合优化问题上。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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