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用于X射线相衬层析成像的系统和方法
专利权人:
同方威视技术股份有限公司;清华大学
发明人:
张丽,黄志峰,陈志强,王振天,李元景,赵自然,肖永顺,邢宇翔
申请号:
CN200810224362.3
公开号:
CN101726503B
申请日:
2008.10.17
申请国别(地区):
CN
年份:
2012
代理人:
摘要:
涉及X射线层析相衬成像系统及方法,包括:X射线装置,向被检测物体发射X射线束;光栅子系统,包括第一和第二吸收光栅,位于X射线束方向上,被检测物体折射的X射线经该第一和第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号;检测单元,接收强度变化的X射线并转换为电信号;和数据处理单元,处理并提取该电信号中折射角信息,并利用折射角信息计算出像素信息;相对移动装置,用于使得所述被检测的物体相对于所述成像系统相对地移动。在所述成像系统与被检测物体的一定相对移动范围内,在多个位置处,所述成像系统对被检测物体进行相衬成像,由此取得被检测物体的多个图像。所述多个图像经过转换变成同一个重建平面上的图像,并由此进行三维图像重建。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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