用于X射线相位对比成像的探测装置
- 专利权人:
- 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 发明人:
- T·克勒
- 申请号：
- CN200880117618.9
- 公开号：
- CN101873828B
- 申请日:
- 2008.11.19
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及用于生成对象(1)的相位对比度X射线图像的方法和设备。该设备包括X射线源(10)，其例如可由光栅(G0)之后的空间延伸发射器(11)实现。衍射光学元件(DOE)，例如相位光栅(G1)，从已经经过该对象(1)的X辐射中生成干涉图样(I)，并且谱分辨X射线探测器(30)用于测量该DOE之后的这一干涉图样。使用在不同波长/能量的X辐射下获得的信息，可以重建由该对象引起的相移。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
