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一种基于去噪自编码器的电阻抗深度成像方法
专利权人:
发明人:
钱慧,王苏煜,韩仲鑫,刘瑞兰
申请号:
CN202211338553.9
公开号:
CN115670421A
申请日:
2022.10.28
申请国别(地区):
CN
年份:
2023
代理人:
摘要:
本发明公开了一种基于去噪自编码器的电阻抗深度成像方法,将传统方法和去噪自编码器相结合。首先,采用有限元方法对二维圆域电阻抗成像问题进行数值模拟,获得二维圆域的阻抗分布图像和圆域的边界电压。然后,使用分裂Bregman(the split Bregman method,SBM)算法获得粗成像。最后,将粗成像作为输入,真实阻抗分布图像作为输出,训练去噪自编码器网络。该去噪自编码器网络可以用于电阻抗成像。仿真和实测结果表明,针对圆形目标,提出的方法能够实现较高精度去除伪影,实现精确的形状重建。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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