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一种结构面轮廓线采样精度的确定方法
- 专利权人:
- 绍兴文理学院
- 发明人:
- 杜时贵,雍睿,叶军,李博,夏才初,张国柱,黄曼,马成荣,何智海,符曦
- 申请号：
- CN201610998579.4
- 公开号：
- CN106441155A
- 申请日:
- 2016.11.14
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 王利强
- 摘要：
- 一种结构面轮廓线采样精度的确定方法，包括以下步骤：(1)提取结构面轮廓线上各点的坐标数据；(2)采用傅里叶级数对结构面轮廓线上各点坐标进行逼近；(3)计算不同阶次条件下傅里叶级数的近似拟合值；(4)计算结构面轮廓线上各点到水平线的距离的均方差；(5)将均方差乘以拟合系数作为傅里叶级数逼近的阈值；(6)计算不同阶次条件下相同水平坐标条件下傅里叶级数的近似拟合值与实测结构面轮廓线坐标的均方差；(7)当阶次n增大到临界值时，En小于傅里叶级数逼近的阈值，阶次n为最低阶次；(8)依据傅里叶级数的频率表达式和求解得到的最低阶次，得到采样间距；(9)求解最小采样精度。本发明有效确定结构面轮廓线采样精度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
