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结构面粗糙度尺寸效应研究中轮廓线采样精度确定方法
- 专利权人:
- 绍兴文理学院
- 发明人:
- 杜时贵,雍睿,李博,叶军,伍法权,夏才初,梁奇峰,黄曼,马成荣,何智海
- 申请号：
- CN201610998652.8
- 公开号：
- CN106570338A
- 申请日:
- 2016.11.14
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 王利强
- 摘要：
- 一种结构面粗糙度尺寸效应研究中轮廓线采样精度确定方法，包括以下步骤：(1)提取系列尺寸结构面轮廓线坐标数据；(2)采用傅里叶级数对结构面轮廓线进行逼近；(3)计算不同阶次条件下的近似拟合值；(4)设置傅里叶级数逼近的阈值；(5)计算不同阶次条件下，傅里叶级数拟合值与结构面实测值的均方差；(6)计算系列尺寸结构面轮廓曲线的傅里叶级数的最低阶次；(7)分析最低阶次平均值与结构面长度的关系；(8)依据傅里叶级数的频率关系，得到最大采样间距；(9)推测给定尺寸L的结构面轮廓线的建议采样精度。本发明能定量确定不同尺寸条件下结构面轮廓线采样精度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
