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Scan flip-flop circuit and scan test circuit including the same
专利权人:
삼성전자주식회사
发明人:
이회진,공배선
申请号:
KR20100055006
公开号:
KR101698010(B1)
申请日:
2010.06.10
申请国别(地区):
韩国
年份:
2017
代理人:
摘要:
스캔 플립플롭 회로는 입력부 및 출력부를 포함한다. 입력부는 동작 모드에 따라 데이터 입력 신호 및 스캔 입력 신호 중 하나를 선택하여 내부 신호로 제공한다. 출력부는 상기 내부 신호에 기초하여 출력 신호를 생성하고, 상기 동작 모드에 따라 데이터 출력 단자 및 스캔 출력 단자 중 하나를 통해서는 상기 출력 신호가 양방향 천이되도록 출력하고, 다른 하나를 통해서는 상기 출력 신호가 단방향 천이되도록 출력한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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