PROBLEM TO BE SOLVED: To describe a system for monitoring sample parameters. A system 100 includes an imaging unit 115, the imaging unit comprising a lens assembly 110 and a detector unit 120, with the detector unit shifting the focus from the region of interest of an object. It collects incoming light to generate defocused image data pieces that show the light collected from the region of interest, and the lens assembly contains at least one lens and is a conjugate image plane or conjugate to the image plane of the detector unit. It is configured to define at least one intermediate optical plane that is an intermediate Fourier plane, and the system comprises at least one symmetric replicators S1 and S2 located in at least one intermediate optical plane, thereby selecting. Imaging of a quadratic speckle pattern with the above symmetric conditions is provided on the detector array. [Selection diagram] Fig. 1【課題】サンプルのパラメータをモニタリングするシステムについて述べる。【解決手段】システム１００は、撮像ユニット１１５を有し、撮像ユニットが、レンズアセンブリ１１０および検出器ユニット１２０を備え、検出器ユニットが、対象物の関心領域に対して焦点をずらしながら関心領域から到来する光を収集して、関心領域から収集した光を示すデフォーカスされた画像データ片を生成し、レンズアセンブリが、少なくとも１のレンズを含み、かつ検出器ユニットの像平面に対する共役像平面または中間フーリエ平面である少なくとも１の中間光学平面を規定するように構成されており、当該システムが、少なくとも１の中間光学平面に配置された少なくとも１の対称レプリケータＳ１，Ｓ２を備え、それにより、選択した対称条件を有する二次スペックルパターンの撮像を検出器アレイ上に提供する。【選択図】図１
