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粒子線照射装置
专利权人:
三菱電機株式会社
发明人:
岩田 高明
申请号:
JP2010500984
公开号:
JPWO2010143267A1
申请日:
2009.06.09
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
The IF sentence (when be able to calculate control command value the conditional expression which divides) of making use, lighting position precision the corpuscular ray lighting device which it can improve is obtained. It is something which from target lighting position coordinate of the charged particle beam in the lighting object, from target lighting position coordinate of the charged particle beam in the lighting object, using the aforementioned opposite mapping numerical formula model, controlling the aforementioned scanning electromagnet with the aforementioned order value which it forms, it tries to have the opposite mapping expedient which possesses the opposite mapping numerical formula model which forms the order value of the scanning electromagnet which actualizes that lighting to scan the charged particle beam and to irradiate to the lighting object.IF文(場合分けをする条件式)を用いず、制御指令値を演算でき、照射位置精度を向上できる粒子線照射装置を得る。照射対象における荷電粒子ビームの目標照射位置座標から、その照射を実現するスキャニング電磁石の指令値を生成する逆写像数式モデルを有する逆写像手段を備え、照射対象における荷電粒子ビームの目標照射位置座標から、前記逆写像数式モデルを使用して生成した前記指令値により前記スキャニング電磁石を制御して荷電粒子ビームを走査し照射対象に照射するようにしたものである。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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