PROPANE-1-SULFONIC ACID {3-[5-(4-CHLORO-PHENYL)-1H-PYRROLO[2,3-b]PYRIDINE-3-CARBONYL]-2,4-DIFLUORO-PHENYL}AMIDE CRYSTALLINE POLYMORPH FORMS

• 收藏
• 分享

专利权人:

F.HOFFMANN-LA ROCHE AG;Ф. ХОФФМАНН-ЛЯ РОШ АГ;PLEXXIKON, INC.;ПЛЕКСКСИКОН, ИНК.

发明人:

Dipen,Дипен,Ralph,Ральф,Zenaida,Зенайда,Prabha, N.,Прабха Н.,Raman, Mahadevan,Раман Махадеван,Hans-Juergen,Ханс-Юрген,Harpreet, K.,Харприт К.,Navnit, Hargovindas,Навнит Харговиндас,Gary, Conard,Гари К

申请号：

EA201591240

公开号：

EA031116B1

申请日:

2010.03.31

申请国别(地区):

EA

年份:

2018

代理人:

摘要：

Provided are a crystalline polymorph form 1 of propane-1-sulfonic acid {3-[5-(4-chloro-phenyl)-1H-pyrrolo[2,3-b]pyridine-3-carbonyl]-2,4-difluoro-phenyl}amide, which exhibits a powder x-ray diffraction pattern having characteristic peak locations of approximately 4.7, 9.4, 11.0, 12.5 and 15.4 degrees 2θ, and a crystalline polymorph form 2 of propane-1-sulfonic acid {3-[5-(4-chloro-phenyl)-1H-pyrrolo[2,3-b]pyridine-3-carbonyl]-2,4-difluoro-phenyl}amide, which exhibits a powder x-ray diffraction pattern having characteristic peak locations of approximately 8.8, 9.2, 13.5, 19.1 and 24.4 degrees 2θ.Предложены кристаллическая полиморфная форма 1 {3-[5-(4-хлорфенил)-1H-пирроло[2,3-b]пиридин-3-карбонил]-2,4-дифторфенил}амида пропан-1-сульфоновой кислоты, где кристаллическая полиморфная форма 1, на порошковой рентгеновской дифрактограмме которой характеристические пики расположены приблизительно при 4,7, 9,4, 11,0, 12,5 и 15,4° 2θ, и кристаллическая полиморфная форма 2 {3-[5-(4-хлорфенил)-1H-пирроло[2,3-b]пиридин-3-карбонил]-2,4-дифторфенил}амид пропан-1-сульфоновой кислоты, на порошковой рентгеновской дифрактограмме которой характеристические пики расположены приблизительно при 8,8, 9,2, 13,5, 19,1 и 24,4° 2θ.

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/