基于电磁跟踪器的超声探头校准
- 专利权人:
- 皇家飞利浦有限公司
- 发明人:
- E·德赫甘马尔瓦斯特,S·巴拉特,A·M·塔赫玛塞比马拉古奥施,G·克莱,J·克吕克尔
- 申请号：
- CN201480069477.3
- 公开号：
- CN105828722B
- 申请日:
- 2014.16.12
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 一种采用校准体模(20)、超声探头(10)以及校准工作站(40a)的超声校准系统。校准体模(20)围绕由一个或多个体模跟踪器建立的校准坐标系内的框架组件(21)。在操作中,所述超声探头(10)相对于由一个或多个探头跟踪器建立的扫描坐标系声学地扫描在图像坐标系内的所述框架组件(21)的图像。所述校准工作站(40a)将所述超声探头(10)和框架组件图像(11)定位在所述校准坐标系内,并且根据所述定位来确定所述图像坐标系与所述扫描坐标系之间的校准变换矩阵。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
