EM校准的实时质量控制
- 专利权人:
- 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 发明人:
- A·K·贾殷
- 申请号：
- CN201180032617.6
- 公开号：
- CN102970926B
- 申请日:
- 2011.05.27
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 摘要：
- 探头（20）在坐标系（11）内生成解剖对象（10）的多个图像体积（13i、13j），以及成像装置（21）生成表示所述解剖对象（10）的图像体积（13i、13j）的成像数据（22）。位置传感器（30）附接至所述探头（20），并且跟踪装置（31）生成表示在所述坐标系（11）内跟踪所述位置传感器（30）的跟踪数据（22）。配准装置（40）执行与所述图像体积（13i、13j）和所述位置传感器（30）之间的空间关系相关联的校准矩阵（51）的验证测试。所述验证测试包括测试相对于校准阈值（CT）的基于图像的体积运动（VMIB）与基于跟踪的体积运动（VMTB）之间的绝对差异。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
