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用于快速和自动超声探头校准的系统和方法
- 专利权人:
- 皇家飞利浦有限公司
- 发明人:
- S·巴拉特,A·博尼拉斯瓦卡
- 申请号：
- CN201780079739.8
- 公开号：
- CN110167447A
- 申请日:
- 2017.18.12
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 一种用于校准相关联超声探头(12)的电磁(EM)跟踪的装置(10)包括EM跟踪设备,所述EM跟踪设备包括:被配置为在EM编码空间中生成EM场的场生成器(14)以及参考EM传感器(24)、设置在超声探头上的和设置在所述校准针上的EM传感器(18、26)、校准针(16);至少一个处理器(50);以及存储有指令的非瞬态存储介质,所述指令可由所述至少一个处理器读取和运行以执行EM跟踪校准方法,所述EM跟踪校准方法包括:使用所述超声探头确定在测量时间所述校准针在超声成像空间中的位置;根据由所述EM跟踪设备对设置在所述校准针上的所述EM传感器的跟踪,确定在所述测量时间所述校准针的EM跟踪位置;并且生成将在所述测量时间所述校准针在所述超声成像空间中的所述位置与在所述测量时间所述校准针的EM跟踪位置进行相关的配准。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
