The present invention relates to acquiring reference scan data for X-ray phase-contrast imaging and/or X-ray dark-field imaging. Therefore an X-ray detector (26) is arranged opposite an X-ray source (12) across an examination region (30) with a grating arrangement (18) arranged between the X-ray source (12) and the X-ray detector (26). During an imaging operation without an object in the examination region (30) the grating arrangement (18) is moved in a scanning motion to a number of different positions ( ± ) relative to the X-ray detector (26) whilst the X-ray detector (26) remains stationary relative to the examination region (30) such that in the scanning motion a series of fringe patterns is detected by the X-ray detector (26). The scanning motion is repeated for a different series of fringe patterns. This allows acquiring reference scan data required for calibration of an X-ray imaging device (10"') with less scanning motions.La présente invention concerne l'acquisition de données de balayage de référence pour une imagerie à contraste de phase par rayons X et/ou une imagerie de champ sombre par rayons X. Par conséquent, un détecteur de rayons X (26) est disposé à l'opposé d'une source de rayons X (12) à travers une région d'examen (30) avec un agencement de réseau (18) agencé entre la source de rayons X (12) et le détecteur de rayons X (26). Pendant une opération d'imagerie sans objet dans la région d'examen (30), l'agencement de réseau (18) est déplacé dans un mouvement de balayage vers un certain nombre de positions différentes (a) par rapport au détecteur de rayons X (26) tandis que le détecteur de rayons X (26) reste fixe par rapport à la région d'examen (30) de telle sorte que, dans le mouvement de balayage, une série de motifs de frange est détectée par le détecteur de rayons X (26). Le mouvement de balayage est répété pour une série différente de motifs de frange. Ceci permet d'acquérir des données de balayage de référence requises pour l'étalonnage d'un
