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SYSTÈME D'IMAGERIE PAR RAYONS X ET PROCÉDÉ D'IMAGERIE PAR RAYONS X
专利权人:
Ltd.;Shenzhen Xpectvision Technology Co.
发明人:
申请号:
EP16923412.7
公开号:
EP3547919A1
申请日:
2016.12.05
申请国别(地区):
EP
年份:
2019
代理人:
摘要:
Disclosed herein is an X-ray imaging system suitable for detecting x-ray, comprising: a first X-ray detector, and a second X-ray detector; wherein the first X-ray detector is configured to move relative to the second X-ray detector; wherein a spatial resolution of the first X-ray detector is higher than a spatial resolution of the second X-ray detector; wherein a detection area of the first X-ray detector is smaller than a detection area of the second X-ray detector. Also described herein is a method of X-ray imaging using the X-ray imaging system.L'invention concerne un système d'imagerie par rayons x (10) approprié pour détecter des rayons x comprenant un premier détecteur de rayons x (30) et un second détecteur de rayons x (40). Le premier détecteur de rayons X (30) est conçu pour se déplacer par rapport au second détecteur de rayons X (40). Une résolution spatiale du premier détecteur de rayons X (30) est supérieure à une résolution spatiale du second détecteur de rayons x (40). Une zone de détection du premier détecteur de rayons x (30) est plus petite qu'une zone de détection du second détecteur de rayons x (40). L'invention concerne également un procédé d'imagerie par rayons x utilisant le système d'imagerie par rayons X (10).
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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