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SYSTÈME D'IMAGERIE PAR RAYONS X ET PROCÉDÉ D'IMAGERIE PAR RAYONS X
专利权人:
LTD.;SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO.
发明人:
CAO, Peiyan,LIU, Yurun
申请号:
CNCN2016/108499
公开号:
WO2018/102954A1
申请日:
2016.12.05
申请国别(地区):
CN
年份:
2018
代理人:
摘要:
An X-ray imaging system (10) suitable for detecting x-ray comprises a first X-ray detector (30) and a second X-ray detector (40). The first X-ray detector (30) is configured to move relative to the second X-ray detector (40). A spatial resolution of the first X-ray detector (30) is higher than a spatial resolution of the second X-ray detector (40). A detection area of the first X-ray detector (30) is smaller than a detection area of the second X-ray detector (40). Also provided is a method of X-ray imaging using the X-ray imaging system (10).L'invention concerne un système d'imagerie par rayons x (10) approprié pour détecter des rayons x comprenant un premier détecteur de rayons x (30) et un second détecteur de rayons x (40). Le premier détecteur de rayons X (30) est conçu pour se déplacer par rapport au second détecteur de rayons X (40). Une résolution spatiale du premier détecteur de rayons X (30) est supérieure à une résolution spatiale du second détecteur de rayons x (40). Une zone de détection du premier détecteur de rayons x (30) est plus petite qu'une zone de détection du second détecteur de rayons x (40). L'invention concerne également un procédé d'imagerie par rayons x utilisant le système d'imagerie par rayons X (10).
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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