The present invention comprises: a first X-ray irradiation apparatus and a second X-ray irradiation apparatus for irradiating a subject with X-rays； an X-ray generation unit supporting so that first and second X-rays irradiated onto the subject are detected by a set detector when the subject is irradiated with the first and second X-rays from the first and second X-ray irradiation apparatuses, respectively； and a mode selection unit for allowing selection of any one mode from among a 2D imaging mode and 3D imaging mode, wherein the angles with respect to the subject of the first and second X-ray irradiation apparatuses are determined on the basis of said any one mode selected by means of the mode selection unit from among the 2D imaging mode and 3D imaging mode. According to the present invention, the mode can be easily selected according to need from among the 2D imaging mode and 3D imaging mode.La présente invention comprend : un premier appareil d'exposition aux rayons X et un second appareil d'exposition aux rayons X pour exposer un sujet à des rayons X ； une unité de génération de rayons X support de telle sorte que les premier et second rayons X auxquels le sujet est exposé sont détectés par un ensemble détecteur lorsque le sujet est exposé aux premier et second rayons X provenant des premier et second appareils d'exposition aux rayons X, respectivement ； et une unité de sélection de mode pour permettre la sélection d'un mode quelconque parmi un mode d'imagerie 2D et un mode d'imagerie 3D, les angles par rapport au sujet des premier et second appareils d'exposition aux rayons X étant déterminés sur la base dudit mode quelconque sélectionné au moyen de l'unité de sélection de mode parmi le mode d'imagerie 2D et le mode d'imagerie 3D. Selon la présente invention, le mode peut être facilement sélectionné selon le besoin parmi le mode d'imagerie 2D et le mode d'imagerie 3D.본 발명은, X선을 피사체에 조사하는 제1 X선 조사장치 및 제2 X선 조사장치를 포함하며, 상기 제1 X선 조사장치 및 상기 제2 X선 조사장치 각각에 의해 조사된
