Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kalibrierung mindestens einer 2D-Röntgenaufnähme (31) eines aufzunehmenden Objekts (2), die mittels eines Röntgengeräts (1) aufgenommen wurde, indem Röntgenstrahlen (3), die mittels einer Röntgenquelle (4) erzeugt werden, das Objekt (2) durchstrahlen und mittels eines Röntgendetektors (5) aufgenommen werden. Dabei wird ein bereits vorhandenes 3D-Modell (7) einer Struktur (6) des Objekts (2) mit der 2D-Röntgenaufnähme (31) verglichen, wobei eine tatsächliche Aufnahmelagebeziehung (15, 17) der Röntgenquelle (4) und des Röntgendetektors (5) relativ zum Objekt (2) und/oder relativ zueinander für die 2D-Röntgenaufnähme (31) bestimmt wird.The invention relates to a method for calibrating at least one 2D X-ray image (31) of an object (2) being imaged, which is captured by an X-ray device (1) by virtue of X-rays (3) that are produced by an X-ray source (4) radiating through the object (2) and being captured by an X-ray detector (5). A 3D-model (7) already made available of a structure (6) of the object (2) is compared to the 2D X-ray image (31), wherein an actual image positional relationship (15, 17) of the X-ray source (4) and the X-ray detector (5) relative to the object (2) and/or relative to one another is determined for the 2D X-ray image (31).La présente invention concerne un procédé pour calibrer au moins un cliché radiographique 2D (31) d'un objet (2) faisant l'objet d'un cliché, lequel cliché est réalisé au moyen d'un appareil à rayons X (1), des rayons X (3) étant produits au moyen d'une source de rayons X (4) et traversant l'objet (2) pour être ensuite détectés par un détecteur de rayons X (5). Selon l'invention, un modèle 3D (7) déjà présent d'une structure (6) de l'objet (2) est comparé au cliché radiographique 2D (31), une relation d'emplacement de prise réelle (15, 17) de la source de rayons X (4) et du détecteur de rayons X (5) par rapport à l'objet (2) et/ou l'un par rapport à l'autre étant déterminée pour le cliché
