Die Erfindung betrifft ein Untersuchungsverfahren eines Objekts (6) mit einem Röntgenaufnahmesystem (3, 4, 19, 21) zur Phasenkontrast-Bildgebung mit zumindest einem Röntgenstrahler (3) zur Erzeugung eines quasi-kohärenten Röntgenstrahlenbündels (13) als erste Komponente, einem Röntgenbilddetektor (4) mit in einer Matrix angeordneten Pixelelementen, einem Beugungs- oder Phasengitter (19), welches zwischen dem Objekt (6) und dem Röntgenbilddetektor (4) angeordnet ist, und einem dem Phasengitter (19) zugeordneten Analysatorgitter (21) zur Erzeugung eines Intensitäts- oder Interferenzmusters (20), bei dem Röntgenbilddetektor (4), Phasengitter (19) und/oder Analysatorgitter (21) starr miteinander verbunden eine zweite Komponente (K2) bilden, bei dem während einer Röntgenbildaufnahme die Komponenten (K1, K2) relativ zueinander mit der lateralen Verschiebung (24) um Verschiebungsstrecken (sk) bewegt werden, bei dem die Röntgenbildaufnahme während der Verschiebung (24) aus n Teilbildern (Tn) erstellt wird, sodass sich die Gesamtbelichtungszeit tgesder Röntgenbildaufnahme aus einer Summe von Teilbelichtungszeiten t1bis tnzusammensetzt, bei dem in jedem der Teilbilder (Tn) in jedem Bildpunkt die Intensität (I(i, j)) ermittelt wird, bei dem die Position der Komponente K2 relativ zur Komponente K1 für jede Aufnahme der Teilbilder (Tn) ermittelt wird und bei dem aus den Teilbildern (Tn) und den Verschiebungen (24) die Bildinformationen bestimmt werden.The invention relates to an examination method of an object (6) having an X-ray recording system (3, 4, 19, 21) for phase-contrast imaging with at least one X-ray emitter (3) for producing a quasi-coherent X-ray beam (13) as the first component, an X-ray image detector ( 4) with pixel elements arranged in a matrix, a diffraction or phase grating (19) which is arranged between the object (6) and the X-ray image detector (4), and an analyzer grating (21) associated with the phase grating (19) for g
