Die Erfindung betrifft ein Röntgen-CT-System (C1) zur Röntgen-Phasenkontrast- und/oder Röntgen-Dunkelfeld-Bildgebung mit einem Gitter-Interferometer, der aufweist: eine erste Gitterstruktur (G0), welche eine Vielzahl von streifenförmig und parallel angeordneten Röntgenemissionsmaxima und -minima aufweist, die eine erste Gitterperiode (p0) besitzen, eine zweite streifenförmige Gitterstruktur (G1), die als Phasengitter einen teilweisen Phasenversatz einer durchtretenden Röntgenstrahlung bewirkt und eine zweite Gitterperiode (p1) aufweist, eine dritte streifenförmige Gitterstruktur (G2) mit einer dritten Gitterperiode (p2), mit deren Hilfe eine relative Phasenverschiebungen benachbarter Röntgenstrahlen (S1, S2) und/oder deren Streuanteile detektiert werden und eine Vorrichtung zur wertemäßigen Bestimmung der Phase zwischen benachbarten Röntgenstrahlen und/oder des räumlichen Intensitätsverlaufes je Detektorelement senkrecht zu den Streifen der Gitterstrukturen.Die Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass die dritte Gitterstruktur (G2) eine Gitterperiode (p2) ausweist, die größer ist als die Gitterperiode (p0) der ersten Gitterstruktur (G0).The X-ray computed tomography system has a grating-interferometer arranged on a gantry. A grating structure has multiple lamellar and parallelly arranged X-ray emissions maxima and minima, which contains a grating period (p-0). Another lamellar grating structure effects a partial phase offset of a passing X-ray radiation as phase grating and has another grating period (p-1). The third grating structure has a grating period (p-2), which is larger than the grating period of the first grating structure.
