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Röntgenaufnahmesystem zur differentiellen Phasenkontrast-Bildgebung eines Untersuchungsobjekts mit Phase-Stepping
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Martin Spahn
申请号:
DE102013204604
公开号:
DE102013204604A1
申请日:
2013.03.15
申请国别(地区):
DE
年份:
2014
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Röntgenaufnahmesystem zur differentiellen Phasenkontrast-Bildgebung eines Untersuchungsobjekts (6) mittels Phase-Stepping mit zumindest einem Röntgenstrahler (3) zur Erzeugung von quasi-kohärenter Röntgenstrahlung, einem Röntgenbilddetektor (4) mit in einer Matrix angeordneten Pixeln, einem Beugungs- oder Phasengitter (17), welches zwischen dem Untersuchungsobjekt (6) und dem Röntgenbilddetektor (4) angeordnet ist, und einem dem Phasengitter (17) zugeordneten Analysatorgitter (18), wobei Röntgenstrahler (3), Röntgenbilddetektor (4), Phasengitter (17) und Analysatorgitter (18) für die Phasenkontrast-Bildgebung kritische Komponenten (32, K1bis Kn) in vorgegebener Anordnung bilden. Erfindungsgemäß sind wenigstens eine Messvorrichtung (34) zur Bestimmung von Abweichungen der geometrischen Verhältnisse der Komponenten (32, K1bis Kn) zueinander vom Geometrie-Soll, eine Analyseeinheit (35, 40) zur Bewertung der gemessenen Abweichungen, eine Recheneinheit (36, 41) zur Bestimmung von Korrekturwerten und Korrekturmittel (37, 38, 42, 46) zur Einstellung der geometrischen Verhältnisse der Komponenten (32, K1bis Kn) vorgesehen.The invention relates to an x-ray imaging system for differential phase contrast imaging- of an examination subject (6) by means of phase - stepping with at least one x-ray source (3) for producing quasi-coherent x-ray radiation, a of this (4) with which are arranged in a matrix pixels, a diffraction or phase grating (17), which is between the object to be examined (6) and the of this (4) is arranged, and a the phase grating (17) associated analyzer (18), wherein the x-ray source (3), this (4), phase grating (17) and analyzer (18) for the phase contrast imaging- critical components (32, k1 to kn) in a predetermined arrangement form. According to the invention, at least one measuring device (34) for the determination of deviations of the geometric ratios of the components (32, k1 to kn) with each other from the geometry-to, an ana
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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