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DISPOSITIF DE MESURE ENDOSCOPIQUE SANS CONTACT
专利权人:
UNIVERSITE LIBRE DE BRUXELLES
发明人:
MERTENS, Benjamin,DELCHAMBRE, Alain,PETRE, Maxime,DEVIERE, Jacques,LEDUC, Dimitri
申请号:
EPEP2019/050418
公开号:
WO2019/137946A1
申请日:
2019.01.09
申请国别(地区):
EP
年份:
2019
代理人:
摘要:
Device (10) for non-contact measurement, comprising: a light source (18), a light pattern projector (17) comprising a diffractive optical element (173) optically coupled to the light source,an imaging system (16) configured for imaging a target site (8) illuminated by the light pattern projector, a support (15) to which the light pattern projector and the imaging system are attached in fixed relative positions,anda processing unit (12) configured to process data acquired by the imaging system.The support has a longitudinal axis (151) parallel to an optical axis (175) of the light pattern projector (17), wherein the light pattern projector (17) and the imaging system (16) are arranged at spaced apart positions along the longitudinal axis (151).The light source is operable to emit a plurality of light beams of different colours, each one of the plurality of light beams being a coherent beam optically coupled to the diffractive optical element (173). The diffractive optical element is configured to diffract the plurality of light beams according to different diffraction angles resulting in separate patterns. The processing unit is configured to determine a measurement based on at least two positions automatically recognised in data acquired from a single one of the separate patternsL'invention concerne un dispositif (10) pour une mesure sans contact, comprenant : une source de lumière (18), un projecteur de tracé de lumière (17) comprenant un élément optique diffractif (173) optiquement couplé à la source de lumière, un système d'imagerie (16) configuré pour imager un site cible (8) éclairé par le projecteur de tracé de lumière, un support (15) auquel le projecteur de tracé de lumière et le système d'imagerie sont fixés dans des positions relatives fixes, et une unité de traitement (12) configurée pour traiter des données acquises par le système d'imagerie. Le support a un axe longitudinal (151) parallèle à un axe optique (175) du projecteur de tracé de lumière (17), l
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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