A method of characterizing the sample surface using a scanning electron microscope and a scanning probe microscope
- 专利权人:
- NenoVision s.r.o.
- 发明人:
- Neuman Jan,Nováček Zdeněk,Pavera Michal
- 申请号：
- CZ20160000241
- 公开号：
- CZ307100(B6)
- 申请日:
- 2016.04.27
- 申请国别(地区):
- 捷克
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
