Verfahren (400) zum automatisierten Ermitteln einer angepassten Einstellung von Signalanalyseparametern (SP) eines Röntgendetektors (16), aufweisend die Schritte:- Erfassen von Informationen bezüglich mindestens einer der folgenden Gruppen von Untersuchungsparametern:- der Abmessungen (ABD) eines zu untersuchenden Objekts (O),- der Röntgenschwächung (RSD) des zu untersuchenden Objekts (O),- der Art (UAD) der Untersuchung des zu untersuchenden Objekts (O),- des Untersuchungsbereichs (UBD) des zu untersuchenden Objekts (O),- automatisches Ermitteln von Signalanalyseparameterwerten (SPW) auf Basis der erfassten Informationen, wobei die Signalanalyseparameter (SP) Parameter für Energieschwellen und/oder Signalformparameter umfassen.A method (400) for automatically determining an adjusted setting of signal analysis parameters (SP) of an X-ray detector (16), comprising the steps: - acquiring information relating to at least one of the following groups of examination parameters: - the dimensions (ABD) of an object to be examined (O ), - the X-ray attenuation (RSD) of the object to be examined (O), - the type (UAD) of the examination of the object to be examined (O), - the examination area (UBD) of the object to be examined (O), - automatic determination of Signal analysis parameter values (SPW) on the basis of the acquired information, the signal analysis parameters (SP) comprising parameters for energy thresholds and / or waveform parameters.
