Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bilderzeugung mit Hilfe einer Strahlungsquelle (4) und einem multipixel Strahlungsdetektor (6), wobei die von der Strahlungsquelle (4) erzeugte Strahlung auf ein zu untersuchendes Objekt und nachfolgend auf den Strahlungsdetektor (6) trifft. Im Rahmen des Verfahrens wird aus der auf den Strahlungsdetektor (6) auftreffenden Strahlung ein Basis-Streuanteil ermittelt und nachfolgend wird mittels des Basis-Streuanteils eine Modellkalkulation vorgenommen, um ein Modell des zu untersuchendes Objekts zu bilden. Mit Hilfe des Modells wird schließlich eine Streukalkulation zur Bestimmung des zu erwartenden Streuanteils der auf den Strahlungsdetektor (6) auftreffenden Strahlung vorgenommen und Vorfeld einer abschließenden Bildaufbereitung wird dann der zu erwartende Streuanteil vom der auf den Strahlungsdetektor (6) auftreffenden Strahlung abgezogen.The method involves determining a base scattering portion from radiation that is emitted on a radiation detector i.e. X-ray detector (6), where the radiation is produced by an X-ray source (4). A model calculation is made with an aid of the scattering radiation portion to form a model of an object to be examined. A scattering calculation is made with an aid of the formed model for determining expected proportion of the scattering radiation portion. The expected proportion of the scattering radiation portion is removed from the total radiation before concluding image processing. An independent claim is also included for an image forming device.
