相衬成像系统信息表征方法及系统
- 专利权人:
- 清华大学
- 发明人:
- 张丽,吴承鹏,高河伟,邢宇翔
- 申请号：
- CN201911147099.7
- 公开号：
- CN111643100A
- 申请日:
- 2019.11.21
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种相衬成像信息表征方法，包括：获取相衬成像的原始数据；根据所述原始数据对相衬信息和暗场信息进行提取；对提取的所述相衬信息和暗场信息通过公式：H＝D′·sin(P′)进行表征，其中H为相衬信息和暗场信息的混合场对比度，P＇为对所述相衬信息的对应数据调整到[﹣π,π]内的相位偏移，D＇对所述暗场信息的对应数据进行指数化操作后的图像对比度降低比值。通过对提取的相衬信息和暗场信息进行处理，能够将原有的相衬信息和暗场信息表征在一张混合场图像中，该混合场图像与原有的相衬图像和暗场图像相比，图像表征清楚，相比于普通的图像融合方法具有更加明确的物理含义。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
