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System and method of ion beam source for semiconductor ion implantation
专利权人:
Chih-Hong Hwang
发明人:
Chih-Hong Hwang,Chun-Lin Chang,Chi-Ming Yang,Chin-Hsiang Lin,Wen-Yu Ku
申请号:
US13443994
公开号:
US08664622B2
申请日:
2012.04.11
申请国别(地区):
US
年份:
2014
代理人:
摘要:
An apparatus comprises an ionization chamber for providing ions during a process of ion implantation, and an electron beam source device inside the ionization chamber. The electron beam source device comprises a field emission array having a plurality of emitters for generating electrons in vacuum under an electric field.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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