透明基体の光学特性を評価する方法
- 专利权人:
- 旭硝子株式会社
- 发明人:
- 玉田 稔,小林 裕介,妹尾 具展
- 申请号：
- JP20150501407
- 公开号：
- JPWO2014129360(A1)
- 申请日:
- 2014.02.12
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本発明は、表示装置の上に配置される透明基体の光学特性を評価する方法であって、透明基体の定量化された解像度指標値（Ｔ）と定量化された反射像拡散性指標値（Ｒ）及び定量化されたぎらつき指標値の中から２つを選択して、前記透明基体の光学特性を評価することを特徴とする。本発明によると、目的や用途に応じて、透明基体とそれに施工するアンチグレア処理を適正に選定することができる。本発明は、例えば、ＬＣＤ装置、ＯＬＥＤ装置、ＰＤＰ装置、およびタブレット型表示装置の各種表示装置に設置される透明基体の光学特性評価に利用することができる。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
