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透明基体の光学特性の評価方法、光学装置
专利权人:
旭硝子株式会社
发明人:
妹尾 具展,小林 裕介,大神 聡司
申请号:
JP20150508389
公开号:
JPWO2014156906(A1)
申请日:
2014.03.19
申请国别(地区):
日本
年份:
2017
代理人:
摘要:
【解決手段】表示装置の表示面側に配置される、第1および第2の表面を有する透明基体の光学特性の評価方法であって、透明基体の定量化された解像度指標値、および定量化された反射像拡散性指標値の2つの指標値を用いて、前記透明基体の光学特性を評価することを特徴とする透明基体の光学特性の評価方法。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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