透明基体の光学特性を評価する方法および透明基体
- 专利权人:
- 旭硝子株式会社
- 发明人:
- 玉田 稔,小林 裕介
- 申请号：
- JP20150540938
- 公开号：
- JPWO2015174132(A1)
- 申请日:
- 2015.03.16
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 透明基体の光学特性を評価する方法であって、アンチグレア処理された透明基体の定量化された防眩性指標値Ｒを把握するステップと、前記透明基体の定量化されたぎらつき指標値Ｇを把握するステップと、を順不同に有する方法。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
